株式会社ジーダット

  • 製品情報

画素・照明・受光デバイス設計

画素・照明・受光デバイス設計

液晶画素・有機EL画素・有機EL照明・光学積層フィルムの最適設計支援

  • ● 実構造を入力して解析可能
  • ● 試作の大幅削減が可能な2次元、3次元の詳細解析
  • ● 不良解析、マスク出し前検証などにも豊富な実績
  • ● 研究開発期間やコストの圧縮が可能
DAOUXILICONロゴ
3D LCDシミュレータ

ExpertLCD

最強の3D解析ソリューション
・設計データから最終光学特性を予測、試作費/開発期間を削減
・電子ビューファインダ用超小型~大型サイネージパネルまでの安定ご運用実績
・液晶/光学素子/BM/バックライトを含む全体モデルを一括解析
・応答特性を再現 (ミスアライメントや動画起因の準安定表示不良を再現)
・液晶配向を含めた構造内の回折/干渉/多重反射を厳密解析
ExpertLCDイメージ

詳細はこちら詳細情報はこちら

DAOUXILICONロゴ
2D/3D FDTD + Ray tracing

ExpertOLED

積層薄膜厳密解析と厚膜基板解析の両立
・有機EL照明/有機ELディスプレイ設計用(取り出し光強度の色・角度依存性解析)
・薄膜層と厚膜基板上のレンズを一括解析
  • FDTDで薄膜内部の電磁界を厳密解析(回折・干渉・散乱解析)
  • 光線追跡で厚膜基板やレンズを高速解析
・可視光を通しづらい薄膜金属の高精度モデルをサポート
・二軸異方性材料をサポート
・実設計に使いやすいモデリング機能
  • プロセスエミュレーション的な3Dモデリング
  • 断面形状の自由編集、実測値インポート可能
・任意領域にディテクタを設定可能
・多彩な結果表示
  • 電磁場の時間的変化の確認
  • 強度分布/角度特性/モード光割合の表示
ExpertOLEDイメージ

詳細はこちら詳細情報はこちら

DAOUXILICONロゴ
CMOSイメージセンサ向けハイブリッド光学シミュレータ

ExpertCIS

ExpertCISイメージ1
世界初の電磁界/3DFDTD/光線追跡のハイブリッド解析
・直観的なGUIとビューア
・高精度・自動材料屈折率フィッティング
・高精度な斜め入射光の全波長領域計算(CRA50度以上対応)
・複雑な3D構造の生成
  • サブミクロン画素の高精度シミュレーション
  • AFMデータからの構造生成
ExpertCISイメージ2

詳細はこちら詳細情報はこちら

DAOUXILICONロゴ
電子デバイス向けRC抽出ツール

ExpertRC

ExpertRCイメージ
実構造内の容量と抵抗を抽出
・2軸異方材料の容量も抽出
・コンタクトを含む多層配線の全体抵抗を抽出
GDSIIを読み込み境界条件は自動設定
・複雑な構造でも安定したメッシュ自動生成
プロセス工程に基づき3次元構造を生成
・Structure機能で各材料の形状・厚みを確認
・材料情報は単一のファイルで統合的に管理

詳細はこちら詳細情報はこちら

DAOUXILICONロゴ
GDS抽出/寸法測定

ExpertIP

GDS情報の抽出/パネル内パターン寸法の測定
・画像のマージ
  • 画素を撮影した複数の拡大写真のパターンを検出し自動的に位置をそろえることが可能
・GDSの抽出
  • 写真内の色の違いからパターンの境界を検出
  • イメージ上で画素サイズを定義し、高精度なGDSデータを出力
・CD (Critical Dimension)
  • 生成されたGDS上のメタル線の幅や任意パターンの寸法の測定が可能
  • 生成されたGDSから選択された図形の面積を計算
  • 実寸法を用いて実画素の特性を正確にシミュレーションすることが可能
ExpertIPイメージ

詳細はこちら詳細情報はこちら