■実際の製造プロセスに基づく構造生成プログラムを実装した光学シミュレータ

• 世界初の電磁界/3DFDTD/光線追跡のハイブリッド解析
• 直観的なGUIとビューア(計算後の解析を強力支援)
• 高精度・自動材料屈折率フィッティング（光学・半導体材料）
• 高精度な斜め入射光の全波長領域計算（CRA50度以上対応）
• 複雑な3D構造の生成（サブミクロン画素の高精度計算・AFMデータからの構造生成可）

■斜め入射光の高精度計算　（他社ツールでは不可能）

60度以上の斜め入射角をもつ光源を高精度に3Dシミュレーション
全波長領域での高精度解析

■屈折率・透過率・反射率の自動フィッティング

有機ディスプレイ材料を高精度で最適化：Si, SiO2, CF_Red/Green/Blue, Al, Agなど

■AFMフォーマットのサポート（構造生成）

スクリプト定義不要のシンプルなUIで、マスク図形から構造を自動生成

■光学解析・表示

全波長領域シミュレーション(FWS)エンジンにより、全ての波長を一度にシミュレーション・表示可能

■システム要求

Hardware：WindowsPC
OS：　　　 Windows 8.1,10,11 Windows Server 2012, 2012R2(64bit)
CPU：　　 3.0GHz以上　12コア以上推奨
Memory： 16GB以上　32GB以上推奨